近年、TOF−SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析計）はクラスタイオンソースなど技術の進歩とその応用分野の拡大に目を見張るものがあります。さて、恒例になりましたTOF−SIMSセミナーを下記開催させて頂きます。今年は４月に開設致しましたTOF-SIMS専門の高輪サイエンスラボラトリにも近く、交通の便も良い東京・品川に会場をご用意し、TOF−SIMSのリーディングカンパニーであるドイツION-TOF社からも技術者を招き講演等も企画しております。

• 日時：2006年11月28日（火）
• 場所：東京コンファレンスセンター・品川